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54 |
W,Wmax-파상도 파라미터(waviness parameter)
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최고관리자 |
06-08 |
15982 |
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53 |
공간의 측정 정도 시험 방법-4
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최고관리자 |
06-08 |
15980 |
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52 |
반사현미경(reflecting microscope,反射顯微鏡)
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최고관리자 |
06-08 |
15979 |
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51 |
하이트 마스터(HEIGHT MICROMETER)의 구조와 특징
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최고관리자 |
06-08 |
15975 |
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50 |
기하편차의 측정용어-3
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최고관리자 |
06-08 |
15974 |
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49 |
교정관련 용어에 대해서
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최고관리자 |
06-08 |
15965 |
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48 |
Dial Gauge Tester의 원리와 종류
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최고관리자 |
06-08 |
15962 |
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47 |
고온 현미경(高溫顯微鏡 High Temperature Microscope)
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최고관리자 |
06-08 |
15956 |
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46 |
모양 및 위치의 정밀도에 관한 표시 1(roundness, staightness etc)
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최고관리자 |
06-08 |
15954 |
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45 |
불확도에 대하여
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최고관리자 |
06-08 |
15948 |
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44 |
표면거칠기 파라미터
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최고관리자 |
06-08 |
15940 |
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43 |
교정제도에 관하여
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최고관리자 |
06-08 |
15917 |
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42 |
캘리퍼 검사기의 구조와 특징
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최고관리자 |
06-08 |
15899 |
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41 |
모양 및 위치의 정밀도에 관한 표시 2(parallelism, perpendiculaity etc)
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최고관리자 |
06-08 |
15887 |
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40 |
캘리퍼 검사기의 사용방법
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최고관리자 |
06-08 |
15872 |
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39 |
하이트 게이지의 개요,설명과 종류
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최고관리자 |
06-07 |
15865 |
