간섭현미경 ( 干涉顯微鏡, interference microscope )
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작성자 최고관리자 작성일12-06-08 16:53 조회16,394회 댓글0건관련링크
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물체가 빛을 지연시키는 현상을 이용하여, 표본을 투과한 물체광에 광원에서 분리된 간섭광을 겹치게 하여 광파장에 대한 간섭현상으로 투명한 표본에서도 그 구조가 뚜렷이 나타나게하는 원리를 이용, 물체의 미세구조나 요철의 변화, 위상변화등을 관찰하여 정량측정을 하는 현미경.
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