측정점 검출기:프로브(PROBE)

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작성자 최고관리자 작성일12-06-08 11:54 조회16,397회 댓글0건

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프로브의 용도상의 분류

측정이 가능한지의 여부 또는 어느 정도 정확한 측정데이터를 얻을수 있는가를 검출 기(probe)에 의해서 결정된다고 해도 과언이 아니다.

프로브는 3차원 측정기의 Z축의 스핀들에 부착할 수 있도록 생크(SHANK)부를 가지 고 있으며,
프로브의 교환시에도 측정 위치 관계가 틀리지 않도록 선단부의 위치와 생크(SHANK) 중심과의 관련 정도를 보증하고 있는 것이 많다.

1.접촉식 프로브(TOUCH PROBE)

3차원 측정기의 대표적인 프로브로서 그 종류도 다양하다.

널리 사용되고 있는 표준화된 프로브는 동심도,위치도,직각도 등의 형상 정도가 고정도(高精度)로 제작되고 있다.
대표적으로 쓰이는 프로브는 테이퍼 프로브,원통 프로브,볼 프로브, 만능 프로브,디스크 프로브 등이 있다.

2.비접촉식 프로브(NON-TOUCH PROBE)

비접촉식 프로브는 광학계를 이용한 것으로 접촉 측정이 불가능하거나 곤란한 측 정,
예를 들면 얇은 물체나 연한 물체의 측정, 작은 구멍의 좌표, 금긋기 선의 위치 측 정, 각종 단면의 치수 측정에 이용된다.

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3.정압 접촉식 프로브(CONSTANT PRESSURE TOUCH PROBE)

이 프로브는 측정자에 측정력이 가해지면 변위하는 기구를 가지고 있고,변위를 검출 하는 센서를 갖고 있으며,트리거 신호를 검출하는 것과 아날로그 신호를 검출하는 것이 있다.

종래에 스이던 레버식 전기 마이크로미터를 이용한 것도 정압 접촉식 프로브의 일종 이며,한쪽 방향 검출과 높은 정도의 분해는력을 가지고 있기 때문에 현재도 검사용으로 이용되고 있다.

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